技术编号：37932698
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于显微成像，更具体地说，是涉及一阶二维微分运算的超构表面边缘检测成像方法和系统。背景技术、一阶二维微分运算函数描述了对输入图像数据的梯度，由于图像可表示为一系列不同强度的点的集合，边缘检测即提取图像的边缘信息提取。利用一阶二维微分运算函数，获取图像各部分的梯度信息，其中，梯度变化较大部分即为图像的边缘，目前现有的边缘检测函数主要是对光瞳函数的振幅透过率与相位透过率进行设计，在系统的出瞳平面处引入对应的振幅、相位调制，便可以实现对系统微分函数的调节。光场的调控通常由传统的光场调控元件来实...
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