技术编号：37940557
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本申请涉及钙钛矿表面处理，尤其涉及一种减小钙钛矿单晶表面漏电流的方法、钙钛矿单晶、探测器。背景技术、钙钛矿单晶表面漏电流的主要来源是表面大量的缺陷悬挂键。通过对生长或者切割后的晶体进行抛光处理可以使得晶片厚度、表面平整度以及粗糙度达到预定的要求，降低表面漏电流。目前钙钛矿单晶普遍采用先打磨、抛光，得到光滑的表面，再进行后钝化的方式以减小表面的缺陷态密度，降低单晶表面漏电流。、然而现有的钙钛矿单晶表面处理方法流程复杂、钝化效果差，导致钙钛矿单晶表面的漏电流难以抑制，最终导致用此单晶制备的探测器...
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