技术编号：3814049
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及，属于光测力学、工程材料、构件变形和位移测试。背景技术随着科学技术的不断进步，微器件和一些复杂材料在宏观尺度下的研究已经不能满足其性能的分析，微区变形测量技术越来越得到研究者的重视，但微区变形测量需要一个变形追踪目标，因此变形追踪目标点的建立成为微器件和复杂材料微区变形测量的一个首要解决的问题。数字图像相关方法是在上个世纪80年代初由美国南卡罗莱纳州大学 (University of SouthCarolina)的Peter和Ranson最早提出...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。