技术编号：39923439
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本技术涉及光电探测器的性能测试领域，具体涉及批量化光电探测器宽温域下参数原位测试装置。背景技术、光电探测器包括光敏电阻、光敏二极管以及图像传感器等传感器。作为传感器中的重要一类，光电探测器通过光电效应将入射的目标光信号直接转换为电信号输出，实现非电信号的电测量，早已被广泛运用于手机、相机、运动控制装置中。目前在航天领域中，图像传感器等光电探测器往往作为对地遥感相机、空间监测相机、星敏感器等重要载荷的核心关键元器件，其应用场景通常具有长任务周期及在轨不可更换的特性。因此对光电探测器的可靠性，尤其...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。