技术编号：39923748
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及芯片测试，特别涉及运算放大器测试，具体是指一种轨对轨全差分运放参数测试电路及测试方法。背景技术、芯片测试领域中的运放测试最为基础，特别是失调电压电流的测试，常规单端输出的运放测试方法有直接测量和利用辅助运放测试。直接测试方法对测试的设备精度有要求，特别是失调电压电流精度很高的时候，很难测试出准确的数值。至于辅助运放的测试方法对辅助运放的要求以及电路中的元器件也有特别的要求，且会因待测运放的失调电压电流精度差异会出现测试偏差，需要根据待测运放调整外围放大电阻器件的阻值。上述两种方法都无...
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