技术编号：40165685
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本申请涉及样品台的领域，尤其是涉及一种适用多角度观测的样品台。背景技术、扫描电子显微镜（sem）是一种介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的一种观察手段。其利用聚焦的很窄的高能电子束来扫描样品，通过光束与物质间的相互作用，来激发各种物理信息，对这些信息收集、放大、再成像以达到对物质微观形貌表征的目的。、在扫描电子显微镜的测试过程中，对样品进行形貌分析或ebsd表征等测试时，扫描电镜的电子束与观察面的夹角有不同的要求。、当需要对同一样品进行不同的测试时，要根据测试所需的夹角需要频繁更换不同的样...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。