技术编号:40203611
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本技术属于激光剥蚀,尤其涉及一种固定样品支架的装置。背景技术、激光剥蚀电感耦合等离子体质谱法(la-icp-ms)是一种固体直接进样,原位、微区、元素分析技术。随着激光剥蚀系统的逐步成熟,la-icp-ms被广泛应用于地质、环境、考古、材料等领域。激光剥蚀电感耦合等离子体质谱(la-icp-ms)利用激光器发出激光束,使用物镜使激光聚焦样品特定区域,利用脉冲激光的能量把固体样品直接剥蚀成微小的颗粒,与载气形成气溶胶,然后通过电感耦合等离子体源(icp)将颗粒等离子化后,进入质谱进行元素检测。...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。