技术编号：467200
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。专利摘要分析了聚合物通过纳米孔易位过程中进行的聚合物的时序系列的测量。测量取决于纳米孔中的k链节的特性，k链节是聚合物的k个聚合物单元，其中，k是正整数。所述方法包括从测量系列得出代表测量特性的时序特征的特征向量；以及测定得出的特征向量和至少一种其他特征向量之间的相似性。专利说明聚合物的测量的分析 技术领域 [0001] 本发明总体上涉及分析在聚合物通过纳米孔的易位过程中进行的包含聚合物单 元的聚合物，例如但不限于多核苷酸的测量的领域。 背景技术 [0002] 通常，通过使用膜限制溶液的两个池之间的物质流动...
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