技术编号：5004206
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及红外成像器试验设备，具体地指一种红外成像器热障试验装置。背景技术红外成像器在高速飞行过程中，由于受到大气的气动加热影响，光学整流罩自身将产生红外辐射，光学整流罩的热杂波进入视场对成像质量造成衰减特性，降低成像系统的信噪比，使成像模糊，严重时甚至形成热障效应无法成像。为验证热障效应对红外成像器成像质量的衰减特性，通常采用的验证方法有两种一种是采用风洞试验，一种是采用单温温箱加热。风洞试验方法一般是利用电弧风洞模 拟光学整流罩高速飞行过程中的温度条件...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。