技术编号:5022476
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及半导体测试工艺,尤其涉及用于计量SDI!5值的测试装置及其测试方法。背景技术使用超滤作为反渗透的预处理设备,在水处理精致及中水回用中已经成为了主流工艺。保证反渗透机长期稳定的运行,预处理产水的SDIt5 (Silt Density Index,污染密度指数)是最关键的指标,需要工作人员定期测试SD&以了解 超滤膜的运行状况。 一旦发现总产品水SDIu偏高,还要对每一个组件进行测试。 SDI,5值被定义为在恒定作用压力下,水通过一定孔径(0...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。