技术编号:5060122
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型属于一种半导体集成电路测试分选设备制造,尤其涉及一种集成电路分选机,亦可适用于SOP、SSOP, TSOP, SOJ等封装集成电路测试分选。背景技术目前,集成电路测试封装使用的分选机有多种多样,有手动测试和机台自动测试, 用机台自动测试又有重力下滑式和拣取放置式这两种之分,相应测试方式分别采用开尔文测试夹和测试插座,这些集成电路成品测试分选机各有特点,根据集成电路芯片包装所用塑料管、托盘或散装方式,选用相应设备,能满足一定的使用要求。然而目前重力...
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