技术编号:5073695
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及半导体封装测试,是ー种用于双芯片、共引脚封装的肖特基器件的耐压不良的检测电路。背景技术肖特基ニ极管是肖特基势鱼ニ极管(Schottky Barrier Diode,缩写成SBD)的简称,它是以贵金属(金、银、铝、钼等)为正极,以N型半导体为负极,利用二者接触面上形成的势垒具有整流特性而制成的金属-半导体器件。因此,SBD也称为金属一半导体ニ极管或表面势垒ニ极管,它是ー种热载流子ニ极管。肖特基ニ极管具有反向恢复时间(Reverse Recove...
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