技术编号:5085227
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及晶片分选领域,特别的是一种晶片分选用无影灯箱。 背景技术晶片外观分选是频率片加工的最终工序,其质量的好坏直接影响到频率器件的电阻、DLD和寄生等电性能。特别是小型化的SMD晶片,外观分选尤其重要。在一些的晶片生产工厂里,采用从上面照射到放在黑布上的晶片上,一些细微的外观缺陷,如亮点。刮伤、腐蚀印和脏污,无法准确的判别出来。实用新型内容针对现有技术的不足,本实用新型提供一种能够方便快捷挑选出瑕疵晶片的晶片分选用无影灯箱。为解决上述问题,本实用新...
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