技术编号：5088172
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种用于检测微小电子器件的不合格或者正常与否而进行分类的，尤其是大幅提高在同一时间内可检测到的电子器件的数量，从而提高作业效率的。背景技术 图1是用于说明通常的电子器件检测设备的框图，图2是体现图1框图的构成的电子器件检测设备的构成图。图1和图2是对相同的结构采用相同的标号的一个检测设备，为了有助于理解，同时示出了以框图的形式示出的图1和以构成图的形式示出的图2。图1以及图2所示的电子器件检测设备包括储料器10，用于存储很多已成型的电子器件1，以...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。