技术编号：5266432
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种扫描热显微镜探针。背景技术近年来，随着纳米科学技术的飞速发展，一系列可以针对纳米材料的测量技术应运而生，其中最引人注目的是原子力显微镜技术，其具有极高的分辨率。扫描热显微镜技术是在原子力显微镜技术基础上发展起来的，其通过在原子力显微镜探针上制作微型热电偶，利用温差电动势来测量纳米材料的温度和表面结构。同时利用原子力显微镜卓越的空间分辨本领来实现对温度空间分布的精确测量。扫描热显微镜在量测材料的表面结构时，首先将探针稳定在样品表面，并向结点通直...
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