技术编号：5502070
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及薄型键盘的键帽拉拔力测试装置，尤其涉及一种键帽拉拔力测试用抽真空装置。背景技术薄型键盘包括键板和键帽，在键板上设置有电路结构及按键，键帽通常通过四角的卡扣结构卡合在键板上、并位于相应的按键上方；由于薄型键盘的结构限制，卡扣结构较为微小，因此容易出现卡扣不良，比如未卡合上、卡扣力度不足等，反应在键盘的整体结构上即键帽不齐平、键帽脱落、按键不顺滑等。为了降低甚至避免键帽的卡扣不良，需要在键帽安装在键板上后，对键帽进行拉拔力测试，即使用一定大小的垂直于...
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