技术编号:5821011
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于激光器检测分析领域,具体涉及一种针对高功率半导体激光器及 阵列激光器的质量和可靠性进行检测和筛选的方法。背景技术已有的半导体激光器的可靠性检测方法是采用电老化法,在提高温度、加大 电流的情况下加速老化一定时间(如24小时或更长)的方法,通过测量将阈值 电流或输出光功率老化前后变化大的器件筛选掉,从而判定器件的可靠性。这种 方法费时、耗电,还要有足够容量的老化台。对高功率阵列激光器来说,驱动电 流一般都在几十安培以上,老化台要有更大的电流容量。另外...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。