技术编号:5821122
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明有关于一种半导体元件寿命试验装置,特别是有关于一种发光二 极管寿命试验装置,可同时测量发光二极管的结温度,进而估计其寿命值。背景技术近来,发光二极管(light-emitting diode, LED)的操作功率与发光效 率不断提高,LED的应用也从小型显示器背光源慢慢地向照明主光源领域迈 进。以LED为主的固态照明趋势,将成为继白炽灯、萤光灯的后的下一世代 照明光源。不过,当LED总光通量与发光效率愈来愈高时,LED的可用寿命 (lifetime)...
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