技术编号:5821174
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种微流体温度场测量装置,还涉及利用这种测量装置测量微流体温度场的 方法。 背景技术采用光学方法解决与折射率相关的流场的温度场参数测量问题,在流场温度场分布的测 量中使用广泛。使用最为广泛的有迈克耳逊干涉仪和Mach-Zehnder干涉仪。参照图l,文献l "利用迈克耳逊干涉仪研究温度场及其误差分析,《物理实验》Vot.26 No.4.温学达等"公开了一种利用迈克耳逊干涉仪进行温度场测量的装置和方法,其干涉仪光 路图光线首先在分光板1处分成两束光...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。