技术编号:5821809
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及超声波脉冲反射原理测量装置,尤其涉及超声测厚仪的单、 双晶探头识别方法以及测量应用方法及识别和应用单、双晶探头的超声测厚 仪。背景技术超声测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的仪器,当超声 测厚仪的探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达二种不同材料分界面时, 脉冲被反射回探头,通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材 料的厚度。对于超声测厚仪的探头都具有延迟块,发射的超声波脉冲反射回 探头的脉冲包括界面反射脉冲和底面反射脉冲。参照图...
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