技术编号:5822436
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型属于光学仪器的,特别涉及一种利用激光散射测量 微粒直径的高精度激光粒度分析仪。(二) 背景技术许多工业生产领域的半成品或成品通常呈现粉未状,粉未的颗粒粒径大 小是生产控制中最基本的参数,粒度及其分布的测试是生产与一项重要的测 试项目。目前常用的测试方法有沉降法。筛析法、显微镜法和激光粒度分析 法,其中后者测试速度快、重复性好、应用范围广,并可以实现快速测试, 正逐渐得到广泛的应用。但目前国内外的激光粒度仪,如公开号为2195091的中国专利,测量...
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