技术编号：5826501
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及一种微电子元器件老化测试插座，尤其能对陶瓷四边引线片式载体元器 件可靠性进行高温老化试验和测试的插座。背景技术目前，在我国可靠性，公知的老化试验插座本体材料采用的是非耐高温普通工 程塑料，而在对陶瓷四边引线片式载体元器件可靠性进行高温老化试验和测试时，老化工作温度仅为-25。C +85'C，且老化工作时间短暂，插座接触件表面镀银，结构简单，存在着与 被测器件之间接触电阻大、耐环境弱、 一致性不高和机械寿命不长的重大缺陷。在我国微电 子元器件可...
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