技术编号:5826503
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及一种微电子元器件老化测试装置,尤其能对单列集成电路元器件可靠性 进行高温老化试验和测试的插座。背景技术目前,在我国可靠性,国内老化试验插座系列产品本体材料采用的是非耐高温 普通工程塑料,在对被测器件进行测试时,老化工作温度仅为-25°C +85°C,且老化工作时 间短暂,插座接触件表面镀银,结构简单,存在着与被测器件之间接触电阻大、耐环境弱、 一致性不高和机械寿命不长的重大缺陷。在我国微电子元器件可靠性领域,单列集成电路元 器件高端技术产品,...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。