技术编号：5827070
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种折射率的測量方法，特别涉及。背景技术折射率是表征物体光学性质的ー个重要的物理量。测量物体折射率的方法比较多，全反原理測量物体的折射率是ー 种比较简单的可行方法。现有技术主要有以下四种方法I)、使用分光计的最小偏角法。首先要把待测物品做成三棱镜形状，測量出三棱镜的顶角，然后把一束光线入射到三棱镜的一个侧面上，光线通过三棱镜后在另外ー个侧面出射，通过测量入射光线和出射光线的最小夹角，再根据折射定律计算折射率。缺陷需要把待测样品做成三棱镜形状，改变...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。