技术编号:5827612
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及一种集成电路(IC)测试装置。背景技术集成电路UC)在应用前, 一般均需要进行测试。例如,集成电路(ic)在晶元封装前、封装后和焊接在线路板后,都需要进行测试。在晶元上测试集成电路(IC),用探针卡接触集成电路(IC)的焊盘上,探针卡输入电信号到 集成电路(IC),并接收集成电路(IC)输出的电信号。集成电路(IC)输出 的电信号为对输入电信号的反应,输入探针卡和集成电路(IC)的电信号一般 由信号发生器(例如自动测试机)所产生。通过编写好程...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。