技术编号：5828084
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明与采用激光差动干涉原理测量数控机床圆轨迹的方法有关。背景技术数控机床的圆轨迹指主轴和工作台之间的相对圆运动的轨迹，名义圆轨迹与实际圆轨迹的偏差是数控机床的重要技术指标，包括圆滞后H、圆偏差G和半径偏差F三个检测项目， 圆滞后H和圆偏差G主要由两个线性轴线圆弧插补误差产生，半径偏差F是绝对偏差。数控机床的圆轨迹的测量采用回转的一维测头、或圆盘和二维测头、或球杆仪， 也有直接采用二维编码器的检测方法。在“用激光干涉法测量数控机床圆轨迹”(授权公告日200...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。