技术编号：5828516
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型属于产品测试，尤其涉及一种芯片测试装置。技术背景随着科学技术的不断发展，芯片(ic)已经成为生产生活中必不可少的电器元件。在芯片的生产过程中，对芯片的检测工作是至关重要的。为了实现对 芯片的检测，现有技术提供了一种芯片测试仪器，是通探针与芯片的焊盘/植球 接触来实现检测，其探针通常是固定不动的。这种产品投入使用的初期，可以 满足对芯片元件及半导体各种器件进行成品测试的需要。但随着焊盘/植球间距 的缩小，这种单一的针塔定位已经不能满足测试要求，因为...
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