技术编号：5829194
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及，属于光电检测领域。背景技术散斑干涉测量技术(ESPI)近二十年来已成为变形场测量的重要方法。散斑干涉术是在散斑干涉术基础上发展起来的测量位移导数的一种新的测量方法，由于它具有可以全场测量、光路简单、调节方便、对环境要求低等特点，因此被广泛用于无损检测领域。传统的散斑干涉法，通常以干涉条纹图的方式给出测量结果，由于受到散斑噪声的影响，其信噪比很差，为定量的给出测量结果，常常需要进行复杂的人工处理，比如确定条纹中心线，为条纹定级等工作。相移法的引入...
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