技术编号:5830100
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及用于测量表面平移的方法和测量i殳备。背景技术两个图像的校正值可用于检测表面的移动、升高、降低、倾斜、形式 上的变化以及不动性。如果图^^目似,则表面保持不变,且校正值高。另 一方面,如果图像之间有差异,则表面在某一方面已发生了变化,这使得 校正值减小。通过按照时间或位置移动将要相互比较的图像来查找最大校 正值,可提供有关待测表面的移动信息。通过在移动方向上创建移动表面的图像行以及通过将图像行设置成 图像矩阵,还可以测量表面的移动速率。矩阵中线的角...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。