技术编号：5831077
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及小范围分析区域中对电磁场的测量。在本申请中，"电磁场"或筒称"场"是指实际的电磁场、纯磁场或纯电场。 背景技术想要测量电磁场时的困难之一在于该场很可能直接作用在用于测量它 的测量装置的电路上，或者该场可能会受到所述装置影响。为了避免这一 缺陷，已经提出了一种光学探测系统，其中该场作用在越过电光晶体的光 束上。在电光晶体中，该场基本上作用于光束的偏振上。这里将说到具有 直线偏振、具有圓偏振和具有椭圓偏振的光波。为了避免论述上的繁瑣， 正如现行实践中...
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