技术编号：5832247
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及测量电路及测试设备，尤其涉及对被测试装置加直流电压， 测量上述被测试装置通过的直流电流。本申请与下列日本申请有关。对于 承认通过文献参考编入内容的指定国，通过参考下列申请记载的内容编入 本申请，作为本申请的一部分。l.专利申请2006-310358，申请日2006年11月16日。 背景技术作为半导体电路等的被测试装置的测试项目，公知的有对被测试装置 的直流测试。所谓直流测试，是通过测量供给到被测试装置中的电源电流或电源电压，判定被测试装置的好坏的...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。