技术编号:5832819
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种半导体装置的测试装置以及测试方法,特别涉及使用测试装置来对半导体装置进行筛选(screening)从而剔除初期不合格时的测试 装置以及测试方法。背景技术半导体集成电路器件(device)等半导体装置,需要为了剔除初期不合 格而进行筛选。在已有的筛选方法中具有代表性的是通过电压加速的方法以 及通过温度加速的方法。 一般来说,半导体装置在常温(25°C-30°C)下使用 时,从开始使用到约1000小时之间的时间段发生初期不合格,真正的使用 寿命约...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。