技术编号:5832956
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种探针高度测量方法,尤指一种一次量测多数探 针高度的探针高度测量方法。背景技术探针治具是印刷电路板(Printed Circuit Board, PCB )、集成电 3各(Integrated Circuit, IC )或连4妾器(Connector)于制4乍完成后, 在进行封装或是出货于下游前,用来4企测其电^各正常与否。目前电 子装置结构日渐复杂的趋势下,单一电子装置可能具有大量的电子 接点位置,而相对应的探针治具,无论于探针数量上或是排列...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。