技术编号：5836014
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明属有机半导体材料载流子迁移率测试，具体涉及一种利用全 内反射方法产生的消失波作激发源测量有机半导体材料载流子迁移率的方法。背景技术有机半导体材料由于其分子结构容易调控、制备工艺简单、可实现大面积柔 性器件等优点而广泛应用于发光二极管、太阳能电池和场效应晶体管等光电器 件。载流子迁移率(通常用.表示)是有机半导体材料的一个重要基本参数，且 与有机半导体光电器件的性能密切相关。载流子迁移率定义为自由载流子(电子或空穴)的平均漂移速度V与外加电场强度E的比...
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