技术编号:5836415
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种,它包括光投射部分及光接收部分,并适合把光投射部分的投射光投在样品上,以便测量从样品反射的光。背景技术 测量多个被传送的样品的光反射率或透射率时,测量误差可能来自样品测量时出现的环境温度的变化、光源强度的变化、检测器灵敏度的变化、光纤曲率的变化,等等。因此,在样品输送前,或样品的输送在测量中有规则地暂停,进行参考物的测量。参考物测量是对放在光学测量系统光路中的参考反射部件上进行的。参考物的测量将改进包括光源和检测器的整个测量系统的测量精度。但...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。