技术编号：5838072
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及电子，特别涉及一种JTAG链路测试方法及其装置。 背景技术为了解决超大规模集成电路的测试问题，由联合测试行动组(JETAQ Joint Test Action Group)提出了边界扫描技术，它通过存在于器件输入输出管脚与内 核电路之间的边界扫描单元(BSC, Boundary Scan Description)对器件及其外围 电路进行测试，从而提高了器件的可控性和可观察性，解决了现代电子技术发 展带来的上述测试问题，可以较方便地完成由现代器件组...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。