技术编号：5838599
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及逻辑集成电路的故障定位方法，尤其涉及一种逻辑集成电路中 扫描链故障的诊断向量生成方法和装置及扫描链诊断方法。背景技术扫描技术是一种广泛采用的结构化可测试性设计(Design For Testability, DFT)技术。基于扫描的逻辑诊断已经成为量产加速阶段(yield ramp-up)不可缺少的手段。通过逻辑诊断可以帮助失效分析设备快速寻找到 引起失效的缺陷位置，从而加速失效分析过程。扫描技术是在逻辑集成电路中插入一种称为扫描链的移位寄存器结...
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