技术编号:5839085
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种实时观察胶体晶体内部缺陷的方法及成像装置, 属于胶体晶体(含光子晶体)结构及缺陷研究领域。背景技术光子晶体即光子禁带材料。从材料结构上看,光子晶体是一类在 光波长尺度上具有周期性介电结构的人工设计和制造的晶朱与半导 体晶格对电子波函数的调制相类似,光子带隙材料能够调制具有相应 波长的电磁波-—当电磁波在光子带隙材料中传播时,由于存在布拉格 衍射而受到调制,电磁波的能量形成能带结构。能带与能带之间出现 带隙,即光子带隙。所具能量处在光子带隙内的...
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