技术编号：5840677
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种核辐射探测技术，特别是一种测量介质表面氡析出率的 方法及装置。 背景技术空气环境中氡主要来自于介质表面的析出，测量介质表面氡析出率的主 要方法有累积法，活性炭吸附法。活性炭吸附法是利用活性炭对析出氡的 吸附，通过对吸附在活性炭中的氡衰变产生的Y谱进行测量求出氡析出率， 该方法测量时间长、不易实现自动化；累积法主要是用于测量一段时间内的 平均氡析出率。当前使用累积法测量介质表面氡析出率都没有考虑氡在析出 后的浓度累积造成泄漏和反扩散的影响，也没...
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