技术编号：5840831
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及用于几何量计量仪器校准的靶标、底座和基准尺，尤 其涉及对电子经纬仪坐标测量系统等空间大尺寸测量仪器进行校准 的靶标、底座和基准尺。 背景技术空间大尺寸测量仪器种类很多，包括经纬仪测量系统，激光测量 系统，摄影测量系统等，各类仪器测量原理不同，不同的测量原理导 致了对其测量精确度评价的不同方法，因而空间大尺寸测量仪器的校 准长期以来都没有完全成形的标准。国家《JJG425-2003光学经纬仪检定规程》和《JJG100-2003全站型电子速测仪检定规...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。