利用共轭光路量测二维位移量的方法技术资料下载

技术编号:5840972

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本发明涉及长度测量仪器光学系统设计领域,特别有关于将远心系统(telecentric system)的量测原理和波前重现(wavefrontreconstruction)的光学原理结合而形成一种共轭光路,并利用此共轭光路,实现具有高允许偏差的二维运动相对位移量的量测。美国专利案号5,204,524公开了一种二维位移量测装置。然而,在解析度与精密度方面,由于几何光学的限制,仍无法有效提高。美国专利案号5,424,833,公开了另一种二维位移量测装置。然而,于...
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