技术编号：5841994
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明是关于一种集成电路(ic)测试机台，尤指一种适用于可换用不同探针卡 的IC测试机台。背景技术图1是已知IC测试机台的立体图，如图1所示的测试机台是具有256个输入/输 出个通道(cha皿el)、及16组DPS的测试机台，机台上的测试载板9、探针座91、及探针卡 92均是根据上述规格而设计。 由于目前电子产品日新月异、功能整合度越来越高，其所涉及的信号种类日趋复 杂。为因应产业需求以提高测试产能，测试机台的测试能力亦要提高，因此其规格从原先的 256个...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。