技术编号：5843180
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种基于轴向研磨保偏光纤光栅传感的微位移检测方法及装置。属于光纤轴向研磨及保偏光纤光栅传感，适用于高精度的微位移检测领域。 背景技术光纤光栅传感具有一般光纤传感器的所有优点，比如抗电磁干扰，尺寸小，重量 轻，传输距离远，耐腐蚀和易弯曲等，它作为敏感元件的传感器，可对应力、温度、压力、加速 度、折射率、扭矩、位移、液体浓度、电磁等参量进行单独或多参量同时传感，因此有着非常 广阔的发展前景。 温度和应变是光纤光栅能够直接传感测量的两个基本物理量，它们...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。