技术编号:5843396
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及共分划面全光谱标靶技术,属于光电成像与测试,可广泛应用于光电成像系统的测量与校准中。背景技术许多光电观瞄和跟踪系统主要用于全天候侦察、制导、跟踪目标等,通常由可见光观瞄、红外热像、激光测距等多光轴系统组成,各分系统的光轴平行性是其重要的参数。多光轴平行性检校系统是用于检验和校准上述光电观瞄和跟踪系统多光轴平行性的一种精密检校装置,由准直物镜、分划板、光源及信号采集和处理系统等组成。在全光谱的工作条件下,各类光电传感器工作在不同的光谱波段上,检校系...
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