技术编号：5844410
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及，属于航空航天。背景技术Sauerbrey根据相关理论研究，提出了石英晶体谐振频率与晶体表面质量的理论 关系，随着石英晶体技术的发展和其应用的不断深入，要校准压电石英晶体材料频率随质 量改变的灵敏度问题就显得格外迫切。随着晶振技术的发展，相继开发了许多石英晶体作 为传感器的测量仪器，目前已经广泛应用于科研、工业生产等方面。 石英晶体微量天平(quartz crystal microbalance，简称QCM)是以石英晶片作为 传感器的高精度质量测...
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