技术编号：5844426
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种航天器光学表面的非金属材料出气污染的原位监测装置，属于航空航天。背景技术近年来，航天器分子污染对卫星光学载荷系统的影响受到多方关注。由于卫星的 长寿命、有效载荷的高性能，例如采用工作温度越来越低的传感器，采用大功率的电子器件 等，对分子污染控制程度随之提高。材料在真空环境下放气产生的分子污染是污染的主要 来源之一，卫星敏感光学表面性能退化是放气分子污染造成的主要效应，所以必须对光学 表面分子污染进行原位监测和控制。分子污染沉积造成的光学性能退...
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