技术编号:5844770
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。 本发明涉及一种GTEM小室的应用,具体涉及一种利用GTEM小室测试辐射电磁干扰噪声的方法,属于电磁兼容。 背景技术 现代电力电子产品正面向微型化、智能化,且系统的设计也越来越复杂,另一方面电力电子设备中开关元件的高速开关所产生的系统寄生参数,致使设备遭受传导辐射型干扰愈加严重,而且对系统抗电磁干扰能力的要求越来越高。因而,为了节省开发时间,节约开发费用,同时也为产品通过质检部门对产品进行辐射EMI测试是必不可少的。 辐射EMI测试实质上是一种过程测试...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。