技术编号:5845403
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及精密仪器与检测。技术背景目前,国内外众多厂家研制出的半导体激光器特性参数检测装置采用的检测方法主要是 连续注入的方式。半导体激光器是依靠载流子直接注入工作的,由于其工作电流密度较高, 伴随着激光输出的同时,将在器件的有源区产生热量,引起温升。半导体激光器的性能对于 温度的变化极其敏感,有源区温度的升高将直接导致增益系数和辐射效率的降低,改变半导 体中载流子分布与器件的电学特性及输出的光谱特性,引起模式的不稳定。如果产生的热量 无法快速有效的散去,...
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