技术编号:5845659
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型是关于在光波测距仪安装一个光学测距计,通过这个光学测距计来测量发射到目标反射物体(固体、液体、棱镜等)上经过折射和反射以后的光,来测量到达物体的距离。背景技术固定测量位置把可视光照射到目标反射物体(30)上,用红外光测量到达测点位置的距离,这是根据日本专利第6-60203号大家所共知的光波测距计的技术。在这个技术中要使用两个发光元件,一个是照射用的可视光元件,另一个是光波测距仪本身要使用的,出射光的光波为从物镜上发射的可视光以及红外光这两个波长的...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。