技术编号：5847527
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型属于光电测量，具体涉及到一种超宽视场光学系统畸变测量装置。背景技术在舰船光学系统、靶场光电测量设备、武器控制系统、精密测量以及复制系统中，超宽视场光学系统作为其重要的组成部分，起到了极其重要的作用。而超宽视场光学系统的畸变直接影响着成像的几何位置精度，而且误差随视场的加大而陡升。为了得到准确的几何位置图像，在进行光学设计时不仅要尽可能对畸变进行校正，而且要对生产的实际光学系统还需要仔细地进行畸变测量，以便提供在使用中的修正值。以往的畸变测量方法如...
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